31 марта

СТАТЬЯ, РАЗВИВАЮЩАЯ ТРАДИЦИИ НАУЧНОЙ ШКОЛЫ НПИ

СТАТЬЯ, РАЗВИВАЮЩАЯ ТРАДИЦИИ НАУЧНОЙ ШКОЛЫ НПИ

В научном журнале Journal of Applied Crystallography, индексируемом в наукометрических базах WOS (квартиль Q2) и Scopus (квартиль Q1), вышла статья «Laue X-ray diffraction studies of the structural perfection of Al-doped thermomigration channels in silicon» («Рентгенографические исследования Лауэ структурного ...